辐射质的控制对辐射量值准确传递十分重要。半值层仪是用于对X射线束辐射质进行测量，进而准确控制X射线辐射输出量，保障X射线应用安全的重要计量器具，它由探测器、减弱过滤和测量单元三大部分组成，基本原理是通过测量穿过不同厚度的附加过滤片射线强度，计算初始辐射强度减弱一半时的滤片厚度，得到半值层的值。

近日，国家市场监督管理总局发布消息，由我院辐射研究所牵头起草的国家计量技术规范“(20～150)kV X射线束半值层仪”(JJF2017-2022)于2023年6月27日开始实施。本规范可以对(20～150)kV X射线半值层仪的量值进行校准，从而保障射线束产品质量和运行安全。