随着平面技术广泛应用于航天、计算机、核能、天文等领域，平面度量值传递与溯源需求迫在眉睫。由上海理工大学主办的平面计量国际研讨会定会于10月25日在上海市举行，中国测试技术研究院光学研究所冉庆等参加本次会议。

参会专家纷纷就平面检测技术在应用中存在的问题及评价指标展开讨论与交流，充分强调了平面计量的重要性。通过研讨会，认识到平面度检测领域存在的问题，明确了平面检测的发展方向。这对我们全面评价平面计量有指导意义。