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专利名称
二维半导体矩阵调强实时验证测量系统
发明人
张友德、龚岚、郑永明、邹绪春
专利类别
实用新型
专利号
ZL201020257569.3
承担单位
辐射所
申请日期
2010-07-14
授权日期
2011-01-26
内容摘要
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