全部∨
搜索
科研活动
科技论文
当前位置: 首页>科研成果
论文名称
诊断 X 射线曝光时间非介入式测量研究
发表刊物
《中国测试》
发表年度
2015
论文作者
杨建、李鹏
承担单位
辐射所
收录情况
关键词
摘要
曝光时间是诊断 X 射线的重要参数之一,根据半导体探测器体积小、灵敏度高及响应快等特点,研制一种用于非介入式测量曝光时间等参数的测量仪,建立诊断 X 射线曝光时间测量模型,并给出曝光时间非介入式测量的电路构成和软件流程。实验表明:研制的诊断 X 射线多参数测量仪适用于曝光时间的非介入式测量和校准。
业务咨询:
028-60828828
联系电话:
028-60828828
邮箱:
nimtt@nimtt.com
邮编:
610021
地址:
四川省成都市玉双路10号
Copyright©2013 中国测试技术研究院 版权所有 蜀ICP备 09003775号 网站总访问量(单位:次):618469 今日独立用户访问量(单位:个):12254 35408

川公网安备 51010802000911号

Copyright©2013 中国测试技术研究院 版权所有